Sub-nm Uzunluk Ölçümlerinin İzlenebilirliği

-A +A

Bir uzunluk ölçümünün izlenebilir olması, bu ölçümün metre birimine izlenebilir olması ile sağlanmaktadır. Metre ise ışığın vakum içindeki hızı (c) ve saniye birimi ile ilişkilidir. Tanım olarak; "Metre, ışığın vakum ortamda 1/299 792 458 saniyede katettiği yol (mesafe)dir".

Nanometre, metrenin milyarda biridir. Sub-nm ise 1 nm’den de küçüktür. Metroloji ve endüstri alanlarındaki bazı uygulamalar, bu bölgedeki gelişmiş doğruluğa katiyetle ihtiyaç duymaktadır.

6 desteklenmiş, 1 desteklenmemiş proje katılımcı ortağı ulusal metroloji enstitüsü ve 2 üniversite tarafından yürütülen bu proje,  Almanya Metroloji Enstitüsü (PTB) tarafından koordine edilmektedir. Proje, günümüzde en yüksek hassasiyet ve doğruluğa ihtiyaç duyan uzunluk ve yerdeğiştirme ölçümlerinde en sık kullanılan lazer interferometreler ve kapasitif sensörlerin izlenebilirliklerinin geliştirilmesini amaçlamaktadır.

Bu proje kapsamında, x-ışınları interferometresi (NPL, İngiltere) ve (diferansiyel) Fabry-Perot interferometresi (TÜBİTAK UME) arasında detaylı karşılaştırma ölçümleri yapılacaktır. Her iki interferometrenin pikometre yerdeğiştirme ölçüm metrolojisi için uygunluğunun demonstre edilmesi amacıyla, x-ışınları quadrature ve/veya sub-quadrature fringe yerdeğiştirme ölçümleri gerçekleştirilecektir.

TÜBİTAK UME kapasitif sensör referanslanması, karakterizasyonu ve kalibrasyonu konularındaki çalışmalara da katılacaktır. Kapasitif sensörlerin sub-nm yerdeğiştirme ölçümlerinin geniş ölçüm aralığında gerçekleştirilmesi hedeflenmektedir.

Proje hakkında detaylı bilgiye http://www.ptb.de/emrp/882.html sayfasından ulaşılabilir. 

(Tamamlandı)