Asifer ve FreeForm mercekler sayesinde optik sistemlerde görüntü kalitesi artmakta; ürün maliyeti, ağırlığı ve ışık enerjisi kaybı azalmaktadır. Asifer ve freeform merceklerin yüksek kalitede üretimi ise, önemli zorluklar içeren, ölçümlerin SI birimi m’ye izlenebilir olmasına bağlıdır. Bu projede birinci hedef least square ve minimum zone metodlarına dayanan ve hesaplama hatası 1 nm’nin altında olan ileri referans değerlendirme algoritmaları geliştirilmesidir. İkinci hedef ise yeni termo-invariant malzemeden asifer ve freeform artefaktlar üretilerek ölçüm belirsizliğinin düşürülmesidir. Diğer bir hedef ise mevcut asifer ve freeform ölçüm cihazlarının ölçüm kabiliyetlerinin artırılmasıdır. Tüm bu hedeflere ulaşılması halinde, şu andaki mevcut ölçüm belirsizliği, 100 nm mertebesinden, proje sonunda 30 nm’nin altına inecektir.
(Tamamlandı)