Projenin amaçları;
• 50 nm’den 500 nm’ye kadar lokal manyetik alanın izlenebilir ölçümleri için metroloji araçları ve yöntemleri geliştirmek
• Manyetik kuvvet mikroskopisi (MFM)’nin SI izlenebilirliği için geçerliği kılınmış kalibrasyon yöntemleri geliştirmek
• Yerinde izlenebilir kalibrasyonlar için referans numuneleri geliştirmek
• Nano ölçekte manyetik ölçümler için IEC standart dokümanını hazırlamak
(Tamamlandı)