Elektriksel işaret veri dönüştürücülerle sayısallaştırıldığında, elde edilen sayısal verilerden işaretin etkin değeri, tepe değeri, harmonik bileşenleri hesaplanabilmektedir. Hassas tüm devre üretim teknolojisindeki gelişmeler veri dönüştürücülere, örnekleme hızı ve doğrulukta, kademe atlatmıştır. Ancak sadece işaretin RMS değerini belirleyen kurulu AC gerilim metrolojisi, sayısal metrolojinin ihtiyaçlarını karşılayamamaktadır. AC gerilimler için Josephson etkisine dayanan kuantum gerilim standardına doğrudan izlenebilirlik kurulması, böylelikle sayısal metrolojinin ihtiyaçları doğrultusunda veri dönüştürücülerin testlerinin gerçekleştirilebilmesi bu projenin amacıdır.
TÜBİTAK UME bu projede:
- Metrolojik vasıflı işaretlerin örnekleme teknikleriyle üretilmesinde ve ölçülmesinde olması muhtemel hata kaynaklarını belirlemeyi ve bu hata kaynaklarının etkilerini analiz etmeyi,
- Yüksek hızlı ADC testleri için DAC tabanlı sentezleyicinin ve test düzeneğinin geliştirilmesine, yazılım ve donanım geliştirerek destek vermeyi,
- Örnekleme tekniklerinin geçerli kılınmasına, DAC tabanlı sentezleyicileri termal transfer teknikleriyle ölçerek aldığı ölçüm sonuçlarıyla destek vermeyi planlamaktadır.
(Tamamlandı)